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德國弗萊貝格儀器的MDPinline ingot（MDP晶錠在線面掃檢測儀--進口少子壽命測試）系統(tǒng)是快速多晶硅晶錠電學參數(shù)特性測量工具。它是專為高通量工廠的單塊晶錠測試而研發(fā)的。每塊晶錠可以在不到一分鐘時間里測量其四面。所有的圖譜（壽命，光電導率，電阻率）都可以同時進行測量。

德國Freiberg Instruments的MDPicts（MDP微波探測光誘導電流瞬態(tài)譜儀--少子壽命），非接觸且無損傷，用于溫度依賴的少數(shù)載流子壽命測量以及半導體的界面陷阱和體陷阱能級的電性能表征。MDpicts將在半導體材料的基礎(chǔ)研究與開發(fā)領(lǐng)域取得廣泛的應(yīng)用。

臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

晶圓片晶錠壽命檢測儀用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材料研發(fā)的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量

靈活的OEM設(shè)備，用于多種不同樣品的在線壽命測量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態(tài)晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過程控制。標準軟件接口，易于連接到許多處理或自動化系統(tǒng)。

晶圓片在線面掃檢測儀是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時間內(nèi)，就可以“動態(tài)”測量出晶圓圖。