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環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說明 |
空氣下形貌表征 | Air接觸或輕敲模式 | / | 1.如果單個樣品測試時間超出30min則按照兩個樣品計算； 2.液相形貌掃描、電化學液池模塊測試的樣品，單個樣品測試時間超出1小時則按照兩個樣品計算； 3探針被樣品污染，按實際采購探針費加收探針耗材費用； 4.可以自帶探針 |
力學性能測試 | 力曲線測試、AM-FM粘彈性成像測試 | / | |
電學性能測試 | 導電AFM成像和I/V曲線測試。電流測試范圍1pA至20nA，電流測試精度1pA | / | |
磁學性能測試 | MFM模塊，表征樣品磁疇分布 | / | |
STM測試 | 導電樣品表面高分辨成像 | / | |
納米加工、刻蝕 | 納米刻蝕、納米操縱、陽極氧化刻蝕、刮擦刻蝕 | / | |
壓電力模塊測試 | 材料表面壓電疇分布，可以提供150V電壓 | / | |
液相形貌測試 | 只接受水相、無毒有機相溶液測試，具有腐蝕性的有機溶劑另議 | / | |
電化學液池模塊測試 | 觀察金屬及其他材料的電化學沉積、氧化及腐蝕過程，需要與電化學工作戰(zhàn)聯(lián)用 | / |
環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測
表征偏置電壓下的儲能材料，例如電池極板，薄膜和溶液-電極界面
金屬的電沉積和溶出、腐蝕動力學研究
監(jiān)測附著電極的生物催化劑和微生物隨著時間的形貌變化，以及其他生物物理研究
納米粒子的成核以及生長
牛津儀器高性能電化學原子力顯微鏡Cypher ES信息由牛津儀器科技（上海）有限公司為您提供，如您想了解更多關于牛津儀器高性能電化學原子力顯微鏡Cypher ES報價、型號、參數等信息，歡電或留言咨詢。
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